长鑫存储测试键合DRAM试验线,三星与SK海力士推进同类技术

合肥项目采用晶圆键合,在不依赖EUV光刻的情况下推进高密度DRAM;随着长鑫存储扩产,公司目标在2026年底前实现HBM3产出,并筹备科创板IPO。

摘要

长鑫存储正在其合肥工厂测试一条键合DRAM试验线,利用晶圆对晶圆混合键合技术,在不依赖极紫外光刻的情况下制造高密度存储芯片。该方案将存储单元阵列与外围电路分离,在不同晶圆上分别制造后再进行键合,在中国芯片制造商仍被限制购买ASML受出口管制的EUV设备之际,这为利用较旧光刻设备生产高性能DRAM提供了潜在路径。韩国媒体最早于2026年7月5日前后报道了这条试验线。三星正通过其B1b项目推进类似的键合DRAM计划,SK海力士也一直在探索键合架构,部分韩国分析师表示,如果长鑫存储率先将该技术商业化,可能获得先发优势。长鑫存储成立于2016年,获得了大量国家支持,已从19 nm DDR4和LPDDR4推进至DDR5,运营多座12英寸DRAM晶圆厂,并随着2025年和2026年DRAM需求走强而持续扩产。公司还计划在2026年底前实现HBM3产出,并筹备在上海科创板首次公开募股。有关这条键合DRAM产线的良率数据和量产时间表尚未披露,显示项目仍处于早期阶段;但若成功商业化,可能加剧市场竞争、压低DRAM价格,并增强中国本土存储供应链。

术语与概念
  • 键合DRAM: 一种DRAM制造方法,通过在不同晶圆上制造关键部分并将其键合在一起构建存储器。
  • 晶圆对晶圆混合键合: 一种芯片制造方法,直接将两片已加工晶圆连接起来,把不同电路层整合为单一器件。
  • HBM3: 一种高带宽堆叠式存储标准,用于AI加速器等高要求应用。